厦门工业CT测量误差的主要来源分析可以从以下几个方面入手。尤其需要注意的是，在使用高精度外形尺寸测量结果校准工业CT数据时，尤其是使用平板探测器的系统，需要进行校准。尺寸应包括样品的 XY 和 XZ 平面(即平行和垂直于检测器的平面)。工业CT数据中单个像素的大小在这两个方向上往往不相等，这取决于重建矩阵的选择。

　　因此，在工业CT扫描过程中，尽量避免样品上下端面与射线平行放置，或尽量避免样品上下端面与旋转轴垂直，否则样本上下端面采样不足，会导致SDK重构。采样不足造成的重构可以通过改变样品放置方式来解决。

　　在投影重建图像的过程中，主要影响因素是由射线硬化和射线散射引起的图像，硬化和散射伪影，导致图像的灰度分布偏离真实分布，带来困难。到随后的测量和阈值样式。如果伪像没有得到正确校正，测量的可靠性将降低。

　　一般来说，为了减少射线硬化的影响，可以通过在采集数据时放置前置过滤器来调整，也可以通过后续的硬化校正算法进行改进。